美國ZMIKE 激光測(cè)徑儀
簡(jiǎn)要描述：
美國ZMIKE 激光測(cè)徑儀
產(chǎn)品時(shí)間：2020-03-12
ZMIKE臺(tái)式外形尺寸激光測(cè)徑儀， 測(cè)量精度高，測(cè)量速度快，可單次或連續(xù)測(cè)量，可滿足不同測(cè)量應(yīng)用領(lǐng)域。與傳統(tǒng)的接觸式外形幾何尺寸測(cè)量比較，BenchMike采用了激光非接觸測(cè)量原 理。對(duì)原始測(cè)量數(shù)據(jù)自動(dòng)采集、處理，數(shù)字顯示等技術(shù)，降低了由于測(cè)量方法及測(cè)量人員造成的誤差。從而提高了測(cè)量的精度。友好界面的顯示控制軟件及多種接口 用于數(shù)據(jù)及通訊，將使用者從繁重的測(cè)量中解放出來。特別是對(duì)于一些柔軟、易碎、輻射、高精度要求等傳統(tǒng)接觸測(cè)量束手無策的被測(cè)量任務(wù)，BenchMike 可提供滿意的測(cè)量。
主要特點(diǎn)：
◆ 測(cè)量精度高，測(cè)量速度快。可滿足不同測(cè)量應(yīng)用領(lǐng)域
◆ 豐富的測(cè)量模式滿足不同的測(cè)量應(yīng)用
◆ 采用了全新數(shù)據(jù)處理技術(shù)，圖形用戶交互(GUI)界面、快捷按鍵使測(cè)量更直觀，操作更便利
◆ 具有測(cè)量應(yīng)用庫及自編輯被測(cè)量功能，配合夾具及多種輸入/出口，使儀表具備良好的測(cè)量擴(kuò)充能力
◆ 單點(diǎn)及雙點(diǎn)自動(dòng)校準(zhǔn)功能，減少了使用條件的變化對(duì)測(cè)量的影響，使儀表維護(hù)更方便
測(cè)量原理：
采用激光掃描原理進(jìn)行測(cè)量，如右圖所示，激光發(fā)生裝置產(chǎn)生的激光，照射在馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的高速旋轉(zhuǎn)棱鏡上，通過發(fā)射透鏡組在測(cè)試區(qū)間中形成標(biāo)準(zhǔn)掃描平行光束，測(cè) 試區(qū)間中的被測(cè)量物體遮擋光束形成的陰影，會(huì)在光電收集端形成信號(hào)的階躍，階躍寬度及位置決定了被測(cè)量物體的直徑及在測(cè)試區(qū)間位置等參數(shù)。
型 號(hào) 測(cè)量范圍 重復(fù)性 線性誤差 測(cè)量光斷面高度 測(cè)量光斷面景深 光點(diǎn)尺寸 掃描光速率
mm µm µm mm mm µm 次/秒
4025S 0.10 - 25.4 ±0.30 ±0.90 56.1 ±1.5 x 25 125 100
4025G 0.10 - 25.4 ±0.13 ±0.50 56.1 ±1.5 x 25 125 100
4050S 0.25 - 50 ±0.50 ±1.50 77.5 ±3 x 50 250 100
4050G 0.25 - 50 ±0.25 ±0.76 77.5 ±3 x 50 250 100
4100HP 2.50 - 100 ±0.30 ±0.8 -- -- 250 500
4120C 2.50 - 112 ±0.50 ±5.0 -- -- 250 500
4120F 0.25 - 115 ±0.80 ±5.0 -- -- 250 500
4120HP 0.25 - 115 ±0.50 ±3.8 -- -- 250 500
4130C 0.25 - 130 ±0.80 ±5.0 -- -- 250 500
2050 0.36 - 50 ±0.64 ±2.5 -- -- 250 500
2100 1.30 - 100 ±1.50 ±6.4 -- -- 250 500
2140 0.76 - 140 ±5.00 ±20 -- -- 250 500
2190 1.10 - 190 ±7.50 ±25 -- -- 250 500
2330 6.35 - 330 ±12.0 ±76 -- -- 250 500